国际标准化组织微束分析技术委员会第二十二次全体大会顺利举行
2015年10月28-30日,国际标准化组织微束分析技术委员会(ISO/TC202)第22次全体大会在日本筑波成功举行,来自美国、英国、德国、法国、日本、乌干达与中国等七个国家ISO/TC202的38名学者、专家参加了为期三天的工作会议,其中十名中国学者与会。
ISO/TC202主席化学所徐坚研究员致辞,回顾了TC202发展历史、现状、面临挑战与发展趋势。ISO/TC202秘书化学所赵江研究员主持了本次全体会议,赵江研究员作了TC202秘书处年度工作报告,报告了技术委员会成员国、人员组织结构、项目进行情况、协议技术委员会情况、以及上次全体会议的决议执行情况。TC202的四个分技术委员会(术语、电子探针、分析电镜、扫描电镜)的主席与秘书分别作了工作报告。
本次ISO/TC202全体会议上,与会专家讨论了九项国际标准文件,并对ISO/TC202未来的发展方向、扩展微束分析技术范围修订等事项进行深入的研讨,把技术委员会领域定义由原来的电子束流拓展到其它种类的入射束流,进一步丰富微束分析的手段与途径,作为在国家标准化组织中中国主导的第一个技术委员会(ISO/TC202),扩展束流工作研讨进行了六年之久,本次会议各个国家达成一致意见,将为ISO/TC202未来可持续发展奠定基础。
会议期间,与会代表访问参观了日本国立产业技术研究所(AIST)下属的日本国立测量技术研究所(NMIJ)。ISO/TC202主席、秘书长与ISO/TC201国际主席野中秀彦博士举行了会谈,共同商讨和交流沟通了进一步加强两个技术委员会合作的事宜。
国际标准化组织微束分析技术委员会秘书处
2015年11月9日
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