国际标准化组织微束分析技术委员会第二十次全体会议顺利举行
2013年10月8-10日,国际标准化组织微束分析技术委员会(ISO/TC202)第20次全体会议在美国科罗拉多州Boulder市成功举行,来自美国、英国、德国、日本与中国等五个国家ISO/TC202的20余名学者、专家参加了为期两天半的工作会议,其中六名为中国学者。ISO/TC202秘书化学所赵江研究员主持了本次全体会议。
ISO/TC202主席化学所徐坚研究员致辞,回顾了TC202发展历史、现状、未来挑战与发展趋势。赵江研究员作了TC202秘书处年度工作报告,报告了技术委员会成员国、人员组织结构、项目进行情况、协议技术委员会情况、以及上次全体会议的决议执行情况。TC202的四个分技术委员会(术语、电子探针、分析电镜、扫描电镜)的主席与秘书分别作了工作报告。
本次ISO/TC202全体会议上,与会专家讨论了四个国际标准新工作计划文件,并对ISO/TC202未来的发展方向进行了深入的研讨。会议原则同意将微束分析技术委员会的工作范围进行扩展,建议将技术委员会的领域定义由原来的电子束流拓展到其它种类的入射束流,以进一步丰富微束分析的手段与途径,为ISO/TC202未来可持续发展奠定基础。
国际标准化组织微束分析技术委员会秘书处
2013年10月22日
附件下载: