10月28日至30日，国际标准化组织微束分析技术委员会（ISO/TC 202）第32次全体会议在英国伦敦以线上线下结合方式召开，来自多个成员国及联络组织的共计61名代表参会（其中现场参会38人，线上参会23人）。

会议由ISO/TC 202主席、中国科学院化学研究所赵江研究员主持，听取了ISO/TC 202秘书、中国科学院化学研究所王岩华工程师所作的秘书处工作报告。会议围绕电子显微学相关技术的国际标准化工作展开深入讨论，重点讨论了聚焦离子束（FIB）技术的国际标准化工作等战略议题。会上，中国专家共提出五项新工作项目提案，汇报了三项国际标准预研项目和三项国际标准项目进展，其中中国科学院化学研究所关波高级工程师汇报了“三维电子衍射数据收集和处理”预研项目的相关进展。

ISO/TC202全体会议每年召开一次，由各参与国轮流举办，来自各国的微束分析领域专家围绕扫描电镜、分析电镜等设备使用中的名词术语、技术规范、环境要素、材料与产品规范等相关标准化议题进行深入探讨，是加强业内交流合作、推动微束分析技术创新发展的重要平台之一。截至目前，ISO/TC202及其分技术委员会制定出版31项国际标准项目，另有8项国际标准在研。

会议现场合影

高分子物理与化学实验室

2025年11月18日