10月29日至31日，国际标准化组织微束分析技术委员会（ISO/TC 202）第三十一次全体会议在日本东京顺利召开。来自德国、英国、日本、乌干达、中国的55名专家以线上线下结合的方式参加会议。

会议听取和讨论了ISO/TC 202秘书处、三个联盟组织、下设咨询工作组的工作报告。ISO/TC202下设的术语、电子探针、分析电镜、扫描电镜四个分技术委员会依次召开工作会议，介绍了过去一年取得的成效、在研项目进展情况和后续工作计划，并通过了相关决议。与会人员围绕委员会工作领域扩大事宜、委员会工作组的管理、复审项目进度、委任联络委员会代表、明年即将启动的线上标准项目发展平台等进行了讨论与表决。

中国科学院化学研究所关波高级工程师在本次会议提出的关于用三维电子衍射分析方法解析微纳米结构晶体的项目将注册为国际标准预研项目。

ISO/TC202全体会议每年召开一次，由9个参与国轮流举办，对加强业内交流合作、推动微束分析技术创新发展发挥着重要作用。依托于中国科学院化学研究所的ISO/TC 202秘书处为委员会的各项工作提供了有力的支持和保障，确保了各项会议的顺利召开和技术文件的编制和修订。

会议合影

会议现场

高分子物理与化学实验室

2024年11月18日