
国际标准化组织微束分析技术委员会第33次全体会议顺利举行
国际标准化组织微束分析技术委员会(ISO/TC 202)第33次全体会议于2026年9月23至25日以线上方式召开。来自英国、德国、日本、韩国、荷兰、乌干达等成员国及联络组织的43名代表参会。
会议由ISO/TC 202主席、中国科学院化学研究所研究员赵江主持,ISO/TC 202秘书、中国科学院化学研究所王岩华工程师作秘书处工作报告。与会代表围绕电子显微学相关技术的国际标准化工作展开深入讨论,重点讨论了日本代表团关于工作组(WG)组建构想的应对策略、TC 201与TC 202交叉项目协调机制,以及各分技术委员会(SC)在研项目的汇报计划与决议预案等议题。
中国专家报告了5项在研国际项目进展,并提出6项新工作项目提案,体现了我国在微束分析国际标准化领域持续深入的参与和贡献。本次会议在中国科学院化学研究所内设立线下分会场,为中国专家集中参会、协同研讨提供了便利条件。
ISO/TC 202秘书处由中国科学院化学研究所承担,负责电子显镜学、电子探针、聚焦离子束等微束分析领域的国际标准制修订工作。截至目前,ISO/TC 202已制定33项国际标准,另有9项国际标准在研。由中国科学院化学研究所牵头起草的微束分析国际标准“Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for data acquisition and processing of three-dimensional electron diffraction”于2026年获得正式立项。
高分子物理与化学实验室
2026年10月14日
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